主要研究設備一覧
平成 27 年 4 月 1 日現在
これらの装置は全て共同利用で使用可能な装置です
高温高圧実験装置
- 6軸超高圧発生装置 6UHP-70
- 一軸加圧式川井型超高圧発生装置 USSA-5000
- 一軸加圧式川井型超高圧発生装置 USSA-1000
- ピストンシリンダー型高圧発生装置
- QuickPress (卓上ピストンシリンダー装置)
- 内熱式ガス圧装置
- タットル型熱水装置
- 超高圧高温マグマ物性測定装置 UHP2000-20 (AMAGAEL)
- X線その場観察用川井型超高圧発生装置 SPEED-Mk.II
- 酸素雰囲気炉
- フローティングゾーン炉単結晶育成装置
- 外熱式ダイアモンド・アンビル高圧発生装置
Ｘ線分析装置・電子顕微鏡
- 粉末Ｘ線回折装置
- 微小部Ｘ線回折装置
- バックラウエ写真機
- 蛍光Ｘ線分析装置 3134P3 (CASTEM)
- 電子プローブマイクロアナライザー JXA−8800
- 走査型電子顕微鏡装置 JSM-7001F (EDS・WDS分析装置 付) (CASTEM)
- 低真空走査型電子顕微鏡装置 JSM-7001F (EDS分析装置 付) (CASTEM)
- 透過電子顕微鏡装置 JEM-7001F (EDS・EELS付) (CASTEM)
質量分析装置
- 二次イオン質量分析装置 Cameca ims 5f (CASTEM)
- 二重収束型誘導結合プラズマ質量分析装置 Element (CASTEM)
- 誘導結合プラズマ質量分析計及び試料導入システム PMS 2000 PML，Agilent 7500cs (CASTEM)
- 表面電離型質量分析装置 MAT261， MAT262 (CASTEM)
- 四重極マスフィルター付表面電離型質量分析計 MAT262 RPQ (2式) (CASTEM)
- 高感度表面電離型質量分析装置 Finnigan TRITON TI (CASTEM)
- 二重収束型高分解能誘導結合プラズママルチコレクタ質量分析装置 Finnigan NEPTUNE (CASTEM)
- 安定同位体比測定用質量分析装置
- 希ガス測定用質量分析装置 VG 5400
- 高分解能型二次イオン質量分析装置 Cameca ims 1270 (CASTEM)
分光分析装置
その他分析・実験装置
- 複合集束ビーム試料加工装置 JIB-4500 (CASTEM)
- イオンクロマトグラフ
- ガス抽出前処理装置
- 超音波反射スペクトロスコピー装置
- 超音波共振法装置
- 単結晶整形システム
- 赤外線レーザー加工機
- インピーダンスアナライザ